德國菲希爾 X 射線熒光測厚儀基本信息

德國菲希爾 X 射線熒光測厚儀基于 X 射線熒光分析技術(shù)，當 X 射線照射到樣品表面時，激發(fā)樣品中的元素發(fā)射出特征 X 射線熒光，通過檢測這些熒光的能量和強度，即可準確分析樣品的元素組成和含量，進而計算出涂鍍層的厚度。例如 FISCHERSCOPE X-RAY XUL-XYm 型號，采用從下至上的原始射線設(shè)計，X 射線管高壓可根據(jù)不同應(yīng)用調(diào)節(jié)至 50kV、40kV 或 30kV，確保在各種測量場景下都能獲得最佳的激發(fā)效果。這種獨特的設(shè)計為測量不同幾何外形的小工件，如螺絲、螺母、電連接器等提供了極大的便利，避免了傳統(tǒng)從上往下測量系統(tǒng)中繁瑣的測量距離調(diào)整，大大提高了測量效率和準確性。